Instrument
FEI Tecnai G2 20 X-TWIN, nagyfelbontású transzmissziós elektronmikroszkóp
DISCIPLINES
ORGANISATIONS
CONDITION
Constantly used
YEAR
2011.
ADDITIONAL INFO
Transzmissziós elektronmikroszkópiával a minták szerkezetét lehet közvetlenül vizsgálni nagy fölbontás mellett (~0.26 nm pont- és 0.14 nm vonalfölbontás). Elektrondiffrakciós képekkel a minta kristályszerkezetéről lehet információt kinyerni a röntgendiffrakcióhoz hasonlóan, csak sokkal kisebb mintatérfogatból, így jól kiegészíti azt.
CONTACT
Puskás Róbert
62/543-526